ThinkLaser SC300 adalah sistem penandaan laser "Soft Marking" kelas atas dan sepenuhnya otomatis yang dirancang khusus untuk wafer 300mm. Nilai intinya terletak pada kemampuannya untuk menerapkan penandaan yang tahan lama dan sangat mudah dibaca tanpa menyebabkan kerusakan pada wafer atau menghasilkan serpihan—sehingga memenuhi persyaratan yang sangat ketat untuk hasil produksi dan ketertelusuran dalam pemrosesan semikonduktor bagian depan.
Awalnya, sistem ini dikembangkan untuk memenuhi tuntutan ketat akan penandaan wafer yang bebas kontaminasi setelah memasuki lingkungan ruang bersih (cleanroom).
**Prinsip Operasional dan Teknologi Inti**
Keunggulan operasional dan teknis SC300 dapat dipahami dengan lebih baik melalui perbandingan berikut:
**Teknologi Inti** | **Prinsip Operasi** | **Keunggulan Utama**
**Penandaan SuperSoftMark™** | Menggunakan laser Solid-State Diode-Pumped (DPSS) yang dipatenkan; dengan mengontrol energi laser secara presisi, laser ini menciptakan penandaan sedalam 2,5µm pada permukaan wafer, hanya mengubah reflektivitas material tanpa menyebabkan kerusakan fisik. | Bebas serpihan, kebersihan tinggi, penandaan jelas, dan tidak merusak wafer.
**Teknologi Laser yang Dipatenkan** | Menggunakan laser Nd:YLF 1053 nm dengan stabilitas pulsa yang luar biasa (<0,5%), memastikan kedalaman setiap titik yang ditandai konsisten dan terbentuk dengan baik. | Kualitas penandaan yang stabil dengan sirkularitas titik yang tinggi (rasio sumbu mayor terhadap sumbu minor <1,1), memenuhi standar kualitas yang ketat.
**Sistem Kontrol Tingkat Lanjut** | Mengintegrasikan kontrol loop tertutup tingkat sistem dan antarmuka SECS/GEM, memungkinkan perekaman data kinerja laser secara tepat hingga tingkat Kontrol Proses Statistik (SPC). | Proses yang sangat terkontrol dan dapat dilacak, mampu diintegrasikan secara mulus ke dalam sistem otomatisasi pabrik.
**Spesifikasi Teknis**
Berdasarkan teknologi intinya, SC300 memiliki spesifikasi teknis utama sebagai berikut:
**Ukuran Wafer yang Didukung:** Standar 300mm (12 inci), dengan kompatibilitas ke bawah untuk wafer 200mm (8 inci).
**Performa Penandaan:** Kecepatan penandaan karakter tunggal hingga 125 wafer per jam (WPH). Setiap grup penandaan mendukung maksimal 80 karakter.
**Akurasi Penandaan:** Pengulangan posisi yang tinggi, mencapai ±0,125 mm dalam area 50×50 mm. Spesifikasi Fisik: Dilengkapi dengan desain sistem pendingin udara dan memenuhi berbagai standar keselamatan dan lingkungan internasional, termasuk CE, SEMI S2, S8, dan S14.
Bidang Aplikasi
SC300 berfungsi sebagai perangkat ketertelusuran inti dalam jalur produksi semikonduktor skala besar, terutama digunakan untuk:
Fabrikasi Wafer Bagian Depan: Memberi tanda pada wafer dengan ID unik untuk memfasilitasi analisis hasil produksi, optimasi proses, dan pelacakan wafer.
Pengemasan Tingkat Lanjut: Memberikan "tanda lunak" pada wafer atau panel yang direkonstruksi selama proses Pengemasan Tingkat Wafer (WLP), sehingga memastikan ketertelusuran proses dari ujung ke ujung.
Semikonduktor Majemuk: Mampu memproses material semikonduktor generasi berikutnya—seperti SiC, GaN, dan GaAs—untuk memenuhi persyaratan khusus dari proses fabrikasi khusus.
Produk Pelengkap
ThinkLaser menawarkan rangkaian solusi identifikasi wafer yang komprehensif, di mana SC300 memainkan peran penting:
Sebagai pelengkap HM300: SC300 dikhususkan untuk "penandaan lunak"—teknik yang tidak memerlukan kerusakan atau kontaminasi permukaan sama sekali—sedangkan HM300 dirancang untuk aplikasi "penandaan keras" yang membutuhkan daya tahan tinggi.
Bagian dari Lini Produk SigmaClean/SigmaDSC: Sementara SC300 berfokus pada pasar 300mm, sistem SigmaClean dan SigmaDSC berfungsi sebagai solusi penandaan lunak otomatis untuk wafer berukuran 200mm dan lebih kecil; bersama-sama, sistem ini membentuk matriks produk lengkap untuk solusi penandaan wafer.
Ringkasan
Kesimpulannya, ThinkLaser SC300 adalah sistem penandaan lunak berteknologi canggih yang dirancang khusus untuk manufaktur wafer 300mm skala besar. Nilai intinya terletak pada teknologi SuperSoftMark™ miliknya, yang memungkinkan penandaan yang efisien, bebas debu, dan presisi tinggi tanpa menyebabkan kerusakan pada permukaan wafer—menjadikannya perangkat yang sangat diperlukan untuk memastikan ketertelusuran proses ujung-ke-ujung dalam produksi semikonduktor modern.





