ASM প্যাসিফিক টেকনোলজি টারেট ওয়েফার লেভেল টেস্ট সিস্টেম SUNBIRD

SUNBIRD হল একটি দক্ষ, উচ্চ-নির্ভুল, সম্পূর্ণ স্বয়ংক্রিয় টারেট-ভিত্তিক ওয়েফার-স্তরের পরীক্ষা ব্যবস্থা যা সেমিকন্ডাক্টর উৎপাদন শিল্পের জন্য ডিজাইন করা হয়েছে। এটি মূলত কাটার আগে ওয়েফারের বৈদ্যুতিক পরীক্ষার জন্য ব্যবহৃত হয় (ওয়েফার সর্ট/সিপি পরীক্ষা)। এর মূল সুবিধা হল উচ্চ থ্রুপুট, উচ্চ স্থিতিশীলতা এবং মডুলার ডিজাইন। এটি গবেষণা ও উন্নয়ন থেকে শুরু করে ব্যাপক উৎপাদন পর্যন্ত বিভিন্ন পরীক্ষার প্রয়োজনীয়তার সাথে খাপ খাইয়ে নিতে পারে, বিশেষ করে উচ্চ-ঘনত্বের ইন্টিগ্রেটেড সার্কিটের (যেমন লজিক চিপস, মেমরি, সেন্সর ইত্যাদি) বৃহৎ আকারের পরীক্ষার পরিস্থিতিতে উপযুক্ত।

২. মূল বৈশিষ্ট্য এবং প্রযুক্তিগত উদ্ভাবন

২.১ টারেট-ভিত্তিক নকশা

সমান্তরাল পরীক্ষার ক্ষমতা: মাল্টি-স্টেশন টারেট ডিজাইনের মাধ্যমে, ওয়েফারগুলির সমান্তরাল লোডিং এবং আনলোডিং, সারিবদ্ধকরণ এবং পরীক্ষা অর্জন করা হয়, যা দক্ষতা উল্লেখযোগ্যভাবে উন্নত করে (যেমন একটি 8-স্টেশন টারেট একই সময়ে একাধিক ওয়েফার প্রক্রিয়া করতে পারে)।

অবিরাম অপারেশন: যখন টারেটটি স্টেশন পরিবর্তন করার জন্য ঘোরানো হয়, তখন অন্যান্য স্টেশনগুলি কাজ করতে থাকে, যা ঐতিহ্যবাহী পরীক্ষকদের অপেক্ষার সময়কে দূর করে।

২.২ সম্পূর্ণ স্বয়ংক্রিয় ইন্টিগ্রেশন

রোবট সহযোগিতা: উচ্চ-নির্ভুল রোবোটিক বাহু এবং ভিজ্যুয়াল পজিশনিং সিস্টেমগুলিকে একীভূত করে স্বয়ংক্রিয়ভাবে ওয়েফার লোডিং, অ্যালাইনমেন্ট, প্রোব কন্টাক্ট এবং বাছাই সম্পন্ন করে।

বুদ্ধিমান সময়সূচী অ্যালগরিদম: পরীক্ষার ক্রম এবং পথ অপ্টিমাইজ করুন, সরঞ্জামের ব্যবহার সর্বাধিক করুন (পরীক্ষার জটিলতার উপর নির্ভর করে UPH 200+ পিস/ঘন্টা পৌঁছাতে পারে)।

২.৩ উচ্চ-নির্ভুলতা পরীক্ষার ক্ষমতা

ন্যানো-লেভেল পজিশনিং নির্ভুলতা: প্রোব কার্ড এবং ওয়েফার প্যাডের (±1μm এর মধ্যে) সারিবদ্ধকরণ নির্ভুলতা নিশ্চিত করতে লেজার ইন্টারফেরোমিটার বা উচ্চ-রেজোলিউশন এনকোডার ব্যবহার করা হয়।

মাল্টি-চ্যানেল পরীক্ষা: হাজার হাজার চ্যানেলের সমান্তরাল পরীক্ষা সমর্থন করে, যা DC/AC প্যারামিটার, RF, মিশ্র সংকেত পরীক্ষা ইত্যাদির সাথে সামঞ্জস্যপূর্ণ।

২.৪ নমনীয়তা এবং স্কেলেবিলিটি

মডুলার ডিজাইন: তাপমাত্রা নিয়ন্ত্রণ মডিউল (-৫৫°C~১৫০°C), মাল্টি-DUT টেস্ট বোর্ড, বিভিন্ন প্রোব কার্ড ইন্টারফেস (যেমন MEMS প্রোব) প্রয়োজন অনুসারে নির্বাচন করা যেতে পারে।

সফটওয়্যার ওপেন ইন্টারফেস: রিয়েল-টাইম ডেটা বিশ্লেষণ (SPC, বিন ম্যাপ জেনারেশন) অর্জনের জন্য তৃতীয়-পক্ষের EDA সরঞ্জাম (যেমন ক্যাডেন্স, কীসাইট) এবং MES সিস্টেমের সাথে একীকরণ সমর্থন করে।

২.৫ নির্ভরযোগ্যতা এবং রক্ষণাবেক্ষণযোগ্যতা

স্ব-নির্ণয় ব্যবস্থা: প্রোব পরিধান, তাপমাত্রা প্রবাহ এবং অন্যান্য পরামিতিগুলির রিয়েল-টাইম পর্যবেক্ষণ, স্বয়ংক্রিয় ক্রমাঙ্কন বা অ্যালার্ম ট্রিগার করে।

দ্রুত লাইন পরিবর্তন: স্ট্যান্ডার্ডাইজড ফিক্সচার ডিজাইন প্রোব কার্ড/টেস্ট বোর্ডের দ্রুত প্রতিস্থাপন সমর্থন করে (পরিবর্তনের সময় < 10 মিনিট)।

3. সাধারণ প্রয়োগের পরিস্থিতি

লজিক/মেমোরি চিপ ভর উৎপাদন পরীক্ষা: যেমন SoC, DRAM, এবং NAND ফ্ল্যাশের দক্ষ CP পরীক্ষা।

উচ্চ-নির্ভুলতা সেন্সর পরীক্ষা: MEMS ডিভাইসের (জাইরোস্কোপ, চাপ সেন্সর) বহু-প্যারামিটার যাচাইকরণ।

তৃতীয় প্রজন্মের সেমিকন্ডাক্টর পরীক্ষা: SiC/GaN ওয়েফারের উচ্চ-ভোল্টেজ এবং উচ্চ-তাপমাত্রা পরীক্ষার প্রয়োজনীয়তার সাথে খাপ খাইয়ে নেওয়া।

4. প্রযুক্তিগত পরামিতি উদাহরণ (প্রকৃত কনফিগারেশন অনুযায়ী সামঞ্জস্যযোগ্য)

আইটেম প্যারামিটার

ওয়েফারের আকার ৬"/৮"/১২" (কাস্টমাইজযোগ্য)

পরীক্ষা কেন্দ্রের সংখ্যা ৪/৬/৮ স্টেশন ঐচ্ছিক

পজিশনিং নির্ভুলতা ±0.5μm @ 3σ

পরীক্ষার তাপমাত্রা পরিসীমা স্বাভাবিক তাপমাত্রা ~ 150°C (ঐচ্ছিক নিম্ন তাপমাত্রা মডিউল)

সর্বোচ্চ পরীক্ষামূলক চ্যানেলের সংখ্যা ২০৪৮টি চ্যানেল (প্রসারণযোগ্য)

যোগাযোগ ইন্টারফেস জিপিআইবি/ইথারনেট/এসইসিএস/জিইএম

৫. বাজার প্রতিযোগিতা বিশ্লেষণ

সুবিধা:

একক-স্টেশন পরীক্ষকদের (যেমন ঐতিহ্যবাহী প্রোবার) তুলনায়, দক্ষতা 30% ~ 50% উন্নত হয়।

শক্তিশালী সামঞ্জস্য, গবেষণা ও উন্নয়নে কম থ্রুপুট থেকে ব্যাপক উৎপাদনে উচ্চ থ্রুপুটে নিরবচ্ছিন্ন রূপান্তরকে সমর্থন করে।

তুলনামূলক পণ্য:

টোকিও ইলেক্ট্রন (TEL) প্রোবার, টেরাডাইন আল্ট্রাফ্লেক্স ইত্যাদির সাথে প্রতিযোগিতা করে, তবে টারেট স্থাপত্য এবং খরচ-কার্যকারিতার ক্ষেত্রে এর আরও স্বতন্ত্র বৈশিষ্ট্য রয়েছে।

৬. গ্রাহক মূল্য

পরীক্ষার খরচ কম: উচ্চ থ্রুপুট সরঞ্জাম বিনিয়োগের সংখ্যা কমিয়ে দেয়।

উন্নত ফলন: উচ্চ-নির্ভুলতা পরীক্ষা এবং রিয়েল-টাইম ডেটা প্রতিক্রিয়া প্রক্রিয়াটি অপ্টিমাইজ করতে সহায়তা করে।

ভবিষ্যতের অভিযোজনযোগ্যতা: এআই-চালিত পরীক্ষা অপ্টিমাইজেশন এবং উন্নত প্যাকেজিং (যেমন চিপলেট) পরীক্ষার প্রয়োজনীয়তা সমর্থন করে।

৭. সারাংশ

SUNBIRD উদ্ভাবনী টারেট ডিজাইন, সম্পূর্ণ অটোমেশন এবং উচ্চ-নির্ভুলতা পরীক্ষার ক্ষমতার মাধ্যমে সেমিকন্ডাক্টর শিল্পের জন্য একটি দক্ষ, নির্ভরযোগ্য এবং নমনীয় ওয়েফার পরীক্ষার সমাধান প্রদান করে, বিশেষ করে উন্নত প্রক্রিয়া চিপ নির্মাতাদের জন্য যারা ব্যাপক উৎপাদন দক্ষতা এবং ডেটা মানের জন্য প্রচেষ্টা চালায়। এর মডুলার স্থাপত্য ভবিষ্যতের প্রযুক্তিগত বিবর্তনের জন্য আপগ্রেড স্থানও সংরক্ষণ করে।